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涂鍍層測(cè)厚儀的原理及應(yīng)用

        涂層測(cè)厚儀又稱涂層測(cè)厚儀。其原理如下：
        磁性測(cè)厚原理：當(dāng)探頭與涂層接觸時(shí)，霍爾發(fā)現(xiàn)電位差UH與電流強(qiáng)度IH成正比，探頭與磁性金屬基體形成閉合磁路。由于非磁性覆蓋層的存在，磁路的磁阻發(fā)生變化，與磁感應(yīng)強(qiáng)度B成正比。當(dāng)探頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬上會(huì)產(chǎn)生渦流基板，與厚度 d 成反比。覆蓋層的厚度可以通過(guò)測(cè)量其變化來(lái)計(jì)算。
        渦流測(cè)厚原理：利用高頻交流電在線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，采用磁性測(cè)厚法無(wú)損測(cè)量磁性金屬上非磁性涂層的厚度，而現(xiàn)在又出現(xiàn)了一種新型的涂層測(cè)厚儀，那就是涂層測(cè)厚儀，它采用了最新的磁感應(yīng)技術(shù)。又稱霍爾效應(yīng)，是霍爾于1879年發(fā)現(xiàn)的。渦流法可以無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基板上非導(dǎo)電層的厚度。通過(guò)研究霍爾電壓與工作電流的關(guān)系，測(cè)量電磁鐵的磁導(dǎo)率，研究霍爾電壓與磁場(chǎng)的關(guān)系，涂層測(cè)厚儀又稱涂層測(cè)厚儀、薄膜測(cè)厚儀、和一個(gè)涂層量規(guī)。采用磁測(cè)厚和渦流測(cè)厚原理。
        涂層測(cè)厚儀按測(cè)量原理一般有以下五種方法：
         1、磁性測(cè)厚法：適用于導(dǎo)磁材料上非磁性層的厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼、銀、鎳。該方法測(cè)量精度高
        2、渦流測(cè)厚法：適用于導(dǎo)電金屬上非導(dǎo)電層的厚度測(cè)量。
         3、超聲波測(cè)厚法：目前國(guó)內(nèi)還沒(méi)有采用這種方法測(cè)量鍍層的厚度。國(guó)外一些廠家有這樣的儀器，適用于多層鍍層厚度的測(cè)量或以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量。場(chǎng)合。但一般價(jià)格昂貴，如200超聲波涂層測(cè)厚儀專用于測(cè)量非金屬基材上的涂層。
         4、電解測(cè)厚法：此法不同于以上三種方法。不屬于無(wú)損檢測(cè)，需要破壞鍍層。一般準(zhǔn)確率不高。它比其他類型的測(cè)量更麻煩。
         5、輻射測(cè)厚儀：這種儀器很貴（一般在10萬(wàn)人民幣以上），適用于在一些特殊的場(chǎng)合。